四探针电阻率方阻测试仪(KDY-1)

    KDY-1型四探针电阻率测试仪是广州市昆德科技有限公司严格按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。仪器特点如下：

1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV  灵敏度：10μV  输入阻抗：1000ΜΩ                        基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm。     可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。6、可加配电脑，使用专用软件进行数据采集,实现自动换向测量、存储,求平均值，***大值、***小值、***大百分变化率、平均百分变化率等内容。7、可配KDDJ-2电动测试架，自动上下运行，使测量更方便快捷。

 

8、四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。