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光谱响应/量子效率量测仪
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-12-05 12:01
 
详细信息

产品特色

可量测单一像素点的量子效率。

可量测全数组像素量子效率。

可产生各种所需单色光均匀光源,自动化校正各单色光、特定单色光入射光子数。

可量测CRA特性(选配)

软件可配合用户需求修改(选配)。

为全自动化设计,操作简易。

系统优势:

*QE-IS系统采用光焱科技研发多年的单色光均光系统具备下列多项优势:

*高均匀度

*可产生高均匀度的单色光光斑,在10x10mm2面积内均匀度可以>99%,在20x20mm2面积内仍可维持在>98%。与积分球系统相较,具有更佳的均匀度表现。

*高光强度、高讯噪比

*QE-IS高效率均光系统,以550nm单色光为例,在QE-IS系统光均面的光强度可>5 uW/cm2,相较于积分球系统的单色光强仅1x10-8 uW/cm2,两者差距千万倍,QE-IS系统量测具备***的讯噪比,可精确测出感光组件的量子效率等相关光学特性。 

*可作单像素QE量测

*因QE-IS单色光强度足够(5 uW/cm2@550nm),打在1 um的像素单元,产生的光电流约在20 pA,相较于积分球系统产生的单一像素光电流在sub-fA以下,QE-IS系统可直接用于量测数组感光组件上,任何单一像素的量子效率。 

*可作全数组像素QE量测

*除单一像素量测,QE-IS可整合或是被整合于使用者自行开发的感光组件的数字电路讯号,以量测全数组像素QE。 

*可作CRA量测

*QE-IS的均匀单色光发散角度< 5度,相较积分球的发散角度 >90度,搭配选配的旋转平台,即可量测CRA(Chief Ray Angle)特性。无需额外添购系统,方便整体的量测。

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