| 硅晶体定向、缺陷、应力测试仪 | | 用于研究硅晶体内部微观结构，包括：单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力等。 |  系统参数 | | ■ 电源：AC220V 50HZ 30A
■ 功率：2KW
■ 靶材：Cu（可选其他靶材）
■ 管电压：50KV（分档可调）
■ 管电流：50mA（分档可调）
■ 稳定度：±1%
■ 保护：过功率、过电压、过电流、无水
■ 冷却：循环水、制冷水箱
■ 防护：铅有机玻璃防护罩
■ 相机：粉沫相机或平板相机用户可自选配置
■ 尺寸：长1000mm×宽780mm×高1050mm（加防护罩1800mm）
■ 重量：320公斤
■ 水泵：长800mm×宽500mm×高700mm |
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