北京羲和阳光科技发展有限公司

型号：XH-SV01

随着多晶硅，硅片，太阳能电池片工艺的不断发展与提高，光伏产业对硅片及电池片质量的检测要求越来越高。本仪器专门用于对硅片以及太阳能电池片的显微质量检测，检测结果快速直观准确。
■ 对于硅片的错位、层错、划痕、崩边等缺陷进行检测；
■ 对硅片的杂质、残留物成分进行分析；
■ 太阳能电池片的制绒质量检测、柵线尺寸精确测量、裂片、污染等缺陷的检测。

■ 观测方式：明场/暗场观测、偏光观测、微分干涉观察(选配)；
■ 观察头：铰链式三目头，30°倾斜；
■ 大视场高眼平场目镜：WF10X视场范围25mm；
■ 长工作距离无限远平场明暗场金相物镜(标配4个)；
     5×/0.1B.D/W.D.29.4mm、10×/0.25B.D/W.D.16mm、
     20×/0.40B.D/W.D.10.6mm、40×/0.60B.D/W.D.5.4mm、
     50×/0.55B.D/W.D.5.1mm、100×/0.80B.D/W.D.3mm(干镜)
■ 转换器：内定位四孔转换器，带微分干涉插口；
■ 粗、微动同轴调焦，采用齿轮齿条传动机构，微动格值0.002mm
■ 载物台：低位同轴手动草组，平台尺寸:190mm×162mm(可定制),移动范围82mm×51mm(可定制)
■ 偏光装置：检偏镜可360度转动，起偏镜检偏镜均可移出光路；
■ 透射/落射照明：卤素灯 12V/50W,AC85V-230V,亮度可调节。