微波光电导载流子复合寿命测(WJ-100A)

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        WJ-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪采用微波反射无接触光电导衰退测量方法，适用于厚度为1mm以下的硅片、电池片少数载流子寿命的测量，提供无接触、无损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体质量的重要检测项目。

 

      寿命测量范围：0.25μs-10ms；样品电阻率下限>0.5Ω·cm。

      读数方式：数字直读。