WJ-200B是针对大尺寸硅锭的测量而设计，可沿端面中轴线（Y轴），从硅锭头部向尾部以选定的间隔扫描测量；可在端面X轴方向从左到右（或从右到左），以选定的间隔扫描测量；可对整个端面做全扫描测量。以上三种测试方式均可由专用软件绘制测试结果彩色分布图、等高图、曲线图。
技术参数：
寿命测量范围：0.25μs-10ms；
电阻率测量范围：≥0.1-1Ω·cm；
***大可测样品尺寸：156×156×长mm（可根据用户需求订制）；
扫描分辨率（mm）：0.5、1、2、4、8、16；
寻边方式：微波自动寻边；
微波频率：10GHz；
红外激光波长：905nm；
脉冲频率：≈40Hz；
脉冲宽度：80-200ns可调；
测量重复性：短期不确定度优于±10%；
每点测量时间：0.6sec（含探头移动及及数据采集计算时间）。
