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硅晶体定向、缺陷、应力测试仪图1

硅晶体定向、缺陷、应力测试仪

2022-11-28 14:356860询价
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硅晶体定向、缺陷、应力测试仪
用于研究硅晶体内部微观结构,包括:单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力等。
 系统参数 

■ 电源:AC220V 50HZ 30A
■ 功率:2KW
■ 靶材:Cu(可选其他靶材)
■ 管电压:50KV(分档可调)
■ 管电流:50mA(分档可调)
■ 稳定度:±1%
■ 保护:过功率、过电压、过电流、无水
■ 冷却:循环水、制冷水箱
■ 防护:铅有机玻璃防护罩
■ 相机:粉沫相机或平板相机用户可自选配置
■ 尺寸:长1000mm×宽780mm×高1050mm(加防护罩1800mm)
■ 重量:320公斤
■ 水泵:长800mm×宽500mm×高700mm

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